G01R 31/00 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)
31/01 . с поочередным испытанием аналогичных изделий, например отбраковочные испытания при массовом производстве; испытание объектов в моменты их прохождения через испытательное устройство (G01R 31/18 имеет преимущество) [6]
31/02 . испытание электрической аппаратуры, линий и элементов на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение
31/04 . . соединений, например штепсельных соединений, неразъемных соединений
31/06 . . электрических обмоток, например на полярность (измерение числа витков, коэффициента трансформации или коэффициента связи в обмотках G01R 29/20)
31/07 . . плавких предохранителей, устройства для указания состояния предохранителей, конструктивно связанных с защитными устройствами H01H 85/30) [6]
31/08 . определение местоположения повреждений в кабелях, линиях передачи энергии или в сетях (схемы защиты электрических линий, машин и приборов H02H)
31/10 . . путем увеличения разрушения на участке повреждения, например путем выжигания с помощью импульсного генератора, работающего по специальной программе
31/11 . . с помощью метода отраженных импульсов
31/12 . испытание диэлектрика на электрическую прочность или пробивное напряжение
31/14 . . схемы для этих целей
31/16 . . испытательные сосуды; электроды для них
31/18 . . с поочередной подачей однотипных изделий на испытание, например шаговые испытания в массовом производстве
31/20 . . подготовка материалов или изделий, облегчающая их испытание
31/24 . испытание разрядных приборов (в процессе их производства H01J 9/42) [2]
31/25 . . испытание вакуумных приборов [2]
31/26 . испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N) [2]
31/265 . . бесконтактные испытания [6]
31/27 . . приборов без их удаления из схемы, частью которой они являются, например компенсация влияния окружающих элементов [6]
31/28 . испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R 31/02; контрольные вычислительные устройства G06F 11/00; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C 29/00)
31/30 . . граничные испытания, например путем изменения напряжения питания (граничные испытания вычислительных машин G06) [2]
31/302 . . бесконтактные испытания (бесконтактные зонды G01R 1/07) [5]
31/303 . . . интегральных схем (G01R 31/305-G01R 31/315 имеют преимущество) [6]
31/304 . . . печатных или гибридных схем (G01R 31/305- G01R 31/315 имеют преимущество) [6]
31/305 . . . с использованием электронных пучков [5]
31/306 . . . . печатных или гибридных схем [6]
31/307 . . . . интегральных схем [6]
31/308 . . . с использованием неионизирующего электромагнитного излучения, например оптического излучения [5]
31/309 . . . . печатных или гибридных схем [6]
31/311 . . . . интегральных схем [6]
31/312 . . . емкостными методами [5]
31/315 . . . индуктивными методами [5]
31/316 . . испытание аналоговых схем [6]
31/3161 . . . граничные испытания [6]
31/3163 . . . функциональные испытания [6]
31/3167 . . испытание комбинированных аналоговых и цифровых схем [6]
31/317 . . испытание цифровых схем [6]
31/3173 . . . граничные испытания [6]
31/3177 . . . испытание логических операций, например с помощью логических анализаторов [6]
31/318 (Рубрика аннулирована. Содержание перенесено в G01R 31/3177,G01R 31/28)
31/3181 . . . функциональные испытания (G01R 31/3177 имеет преимущество) [6]
31/3183 . . . . генерирование входных данных теста, например тестовые вектора, тестовые модели или последовательности [6]
31/3185 . . . . переналадка для испытаний, например LSSD сегментарно [6]
31/3187 . . . . встроенные тесты [6]
31/319 . . . . аппаратное обеспечение тестера, т.е. схемы обработки выходных данных [6]
31/3193 . . . . . со сравнением фактической и эталонной реакций [6]
31/32 (Рубрика аннулирована. Содержание перенесено в G01R 31/333)
31/327 . испытание прерывателей цепи, переключателей или выключателей цепи (конструктивная связь с переключателями H01H) [6]
31/333 . . испытание переключательной способности высоковольтных выключателей (прерывателей) цепи (средства обнаружения присутствия дуги или разряда в устройствах переключения H01H 9/50, H01H 33/26) [6]
31/34 . испытание электрических машин (испытание электрических обмоток G01R 31/06; способы и устройства для изготовления, эксплуатации и ремонта электрических машин H02K 15/00) [3]
31/36 . устройства для испытания электрических характеристик аккумуляторов или электрических батарей, например мощности или заряда (аккумуляторы, комбинированные с устройствами для измерения, испытания или индикации H01M 10/48; схемы зарядки для деполяризации батарей, схемы питания сетей от батарей H02J 7/00) [3]
31/38 . испытание свечей зажигания (испытание неэлектрических свойств G01M 19/02) [6]
31/40 . испытание источников питания [6]
31/42 . . источников питания переменного тока [6]
31/44 . испытание ламп (разрядных ламп G01R 31/24; конструктивно связанных со схемами источников тока для обнаружения повреждения ламп H05B 37/03) [6]